约翰霍普金斯大学开发出一种可以预测心脏猝死的方法

2022年08月15日 08:18 次阅读 稿源:cnBeta.COM 条评论

根据约翰霍普金斯医学院研究人员领导的一项小型但彻底的研究,心脏代谢异常的成年人出现危及生命的心律失常(一种不规则的心律)的可能性高达三倍,而磁共振成像技术可以用来检测这种情况并预测未来的心脏猝死(SCD)。

这些发现最近发表在《JCI Insight》上。

“我们认为这是第一次将人们的心脏代谢受损跟威胁生命的心律失常或心脏猝死的风险增加联系起来,”这项研究的论文第一作者、约翰霍普金斯大学医学院医学教授Robert Weiss医学博士说道,“这可能为一种全新的方法打开一扇窗,一种治疗或预防严重心律失常的代谢方法,这是目前心脏病学中没有的。"”

根据美国心脏协会的数据,心脏性猝死占美国所有心血管疾病死亡人数的50%,每年夺去30多万人的生命。目前,在高危人群中避免SCD的主要方法是植入式心律转复除颤器(ICD),这是一个微小的、以电池为动力的装置,放在胸部以检测和阻止异常的心律。该设备持续检查心律并在必要时进行电击从而使心跳恢复正常。ICD的电池寿命通常为5到7年。

该研究的论文第一作者、约翰-霍普金斯大学医学院心脏病学研究员T. Jake Samuel博士表示:“在七年中,60%-70%的这些设备从未放电以拯救一个生命。我们每年在植入的ICD上花费数十亿美元,这些ICD有程序和程序后的风险。需要有非侵入性的方法来更好地评估谁需要或不需要ICD的风险以防止人们的心脏猝死。”

三磷酸腺苷(ATP)是细胞能量的主要化学来源,在46名参与者接受ICD初级预防之前,Samuel及其同事对他们的心脏进行了监测。该研究的论文共同作者Paul Bottomley博士在约翰霍普金斯医学院开发了磁共振光谱(MRS)方法以在临床磁共振成像扫描仪上监测心脏ATP水平,进而确定个人是否有异常的ATP代谢。为了确定哪些病人在危及生命的心律失常时有适当的ICD启动,所有病人平均每3至6个月评估一次,持续10年。

结果显示,跟ATP代谢正常的人相比,心脏ATP水平低的人(代谢受损)的心脏猝死风险(如果不通过ICD干预挽救的话)高出三倍。在对左心室射血分数低进行调整后,情况仍是如此,而左心室射血分数是目前用来确定是否需要初级预防ICD的指标。

Samuel及其同事报告称:“在研究期间的10年里,约80%的心脏ATP水平正常的人从来不需要ICD。”他们表示,研究结果可以补充目前的方法并导致对谁最有可能需要或不需要ICD的更好预测。然而他们强调,还需要更多的研究来评估不同的和更大的人群。

Weiss说道:“但我们对这些真正的新发现感到兴奋,这可以说是人类的第一个发现,并相信它们可以对医生评估心脏猝死风险的方式产生变革。一旦我们确认新陈代谢和SCD有联系,我们希望研究哪些药物能保护和改善ATP的新陈代谢及它们是否能被用来降低SCD的风险。”

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